자동차 및 상업용 EMC 과도 현상 시험 시스템

㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 NSG 5500 시스템을 제공하며, 이를 통해 ISO, SAE, DIN, JASO 등 주요 국제 규격에 따라 요구되는 정전용량 방전형 펄스 간섭 시험을 정확하고 효율적으로 수행할 수 있습니다. NSG 5500은 승용차용으로 이미 확립된 시험 규격은 물론, 상용차에 적용되는 신규 표준 및 각 차량 제조사별 특수 규격까지 폭넓게 지원하도록 설계되어, 하나의 시스템으로 다양한 요구에 대응할 수 있는 유연성을 갖추고 있습니다.

㈜이레테크는 시험 환경에서 차량 배터리를 대체하도록 설계된 고성능 배터리 시뮬레이터인 TESEQ(AMETEK CTS)의 PA 5840 및 PA 5740 시리즈를 제공합니다. 이 장비는 전력 등급, 전압, 슬루율(slew rate), 임피던스 등 다양한 조건에 유연하게 대응하며, 양방향 전류 제어가 가능한 4사분면 운용(Four-Quadrant Operation)을 지원합니다. 기존 증폭기 대비 최대 3배 확장된 대역폭(150 kHz)과 탁월한 돌입 전류(Inrush Current) 처리 성능을 바탕으로, ISO 7637-2 Pulse 2b/4, 정현파 기반 노이즈, 복합 파형 등 복잡한 자동차 EMC 시험에 적합한 솔루션을 제공합니다.

AES 5501은 ISO 7637-2 규격에 따른 배출가스 관련 전자파 시험을 위해 설계된 시스템으로, 전자 및 기계식 스위치, 의사회로망 (Artificial Network), 고유의 제어 스테이션으로 구성되어 있습니다. 세밀한 개발 과정과 철저한 베타 테스트를 거쳐 출시된 AES 5501은 우수한 규격 적합성, 신뢰 높은 품질, 그리고 차별화된 기능성을 갖춘 솔루션으로 평가받고 있습니다. 이 시스템은 총 네 개의 구성 요소로 이루어져 있으며, 사용자는 스위치의 위치, 동작 시점, 제어 방식을 정밀하게 설정할 수 있습니다. 또한, 릴레이 구동에 필요한 전압까지 포함하여 다양한 시험 조건을 일관되게 제어할 수 있는 유연한 운용 환경을 제공합니다.

㈜이레테크는 고객의 다양한 규격 요구사항에 부합하는 신뢰 높은 시험 환경을 구축하기 위하여 TESEQ (AMETEK CTS)의 최신 EMC 내성 시험 장비인 NSG 3040A을 제공합니다. NSG 3040A는 국제 및 국가 표준, 제조사 사양, 최신 IEC/EN 표준에 따른 전도성 내성 시험을 위한 다기능 전자파 간섭(EMI) 시뮬레이터로 설계되었으며, 조합파 서지, EFT(고속 과도 현상) 펄스, PQT(전원 품질 시험) 등 CE 마킹을 위한 필수 시험 항목을 모두 지원합니다. 이 장비는 모듈식 설계 기반의 확장성을 갖추고 있어, 기본 시험 구성에서 시작해 고급 시험실의 복합적인 요구까지 유연하게 대응할 수 있습니다. 고성능 독립형 모듈은 스위칭 속도와 위상 정확도 측면에서 우수한 성능을 발휘하며, 업계 표준을 능가하는 정밀도를 제공합니다.

NSG 3060A는 성공적으로 검증된 기존 NSG 3000 시리즈의 사용자 중심 설계 철학을 한층 발전시킨 모델로, 모듈식 구조를 기반으로 기본 시험 요구사항뿐 아니라 고급 시험실의 복잡한 시험 시나리오까지 폭넓게 대응할 수 있는 확장형 솔루션입니다. NSG 3060A는 조합파 서지, 링 웨이브, EFT(전기적 고속 과도현상) 펄스, 전원 품질 시험(PQT) 등 전도성 내성 시험의 핵심 항목을 모두 충족하며, ANSI C62.41 규격에서 요구하는 위상 연동형 펄스 진폭 조정 기능도 완벽하게 구현되어 고난이도 시험 요구에도 대응할 수 있습니다.

NSG 3150은 IEC/EN 61000-4-5 규격에 완벽히 부합하며, 업계에서 새로운 기준을 제시하는 차세대 EMC 내성 시험 솔루션입니다. 이 장비는 표준 요구사항을 충실히 준수할 뿐 아니라, 보다 강화된 조건에서도 시험이 가능하도록 설계되어, 사용자가 규격 이상의 고품질 테스트를 수행할 수 있도록 지원합니다. 특히, 유연한 시험 반복 시간 설정 기능은 동일 조건 하에서 시험 시간을 크게 단축시켜, 생산성과 효율성을 향상시키는 데 기여합니다.