휴대성과 안전성을 갖춘 정전기 방전(ESD) 시뮬레이터
근거리장 프로브
근거리장 프로브는 어셈블리 및 장치의 고주파, 전기 및 자기 RF 장을 함께 측정하는 데 사용됩니다.
단일 프로브에 대한 기술 매개변수는 해당 제품 기사와 개요 PDF에서 다운로드하여 확인할 수 있습니다.
LF 시리즈는 총 7개의 자기장(H-field) 프로브로 구성되어 있으며, 이 중 4개는 LF1 세트에 포함되어 있습니다. 고객 요청에 따라 맞춤형 프로브 세트 구성도 가능합니다.
RF 시리즈는 9개의 자기장 프로브와 6개의 전기장(E-field) 프로브로 구성된 종합 세트로 제공되며, 다양한 고주파 측정 작업에 최적화되어 있습니다. 필요에 따라 맞춤 세트 제작도 지원됩니다.
XF 시리즈는 4개의 자기장 프로브와 3개의 전기장 프로브로 구성되어 있으며, 기본 구성으로 XF1 세트(4개의 자기장 프로브 + 1개의 전기장 프로브) 가 제공됩니다. 사용 목적에 따른 맞춤형 세트도 제공 가능합니다.
SX 시리즈는 3개의 자기장(H-field) 프로브와 1개의 전기장(E-field) 프로브로 구성되어 있으며, SX1 세트(2개의 H-필드 프로브 + 1개의 E-필드 프로브) 및 SX-R 20-1 세트가 제공됩니다.
HR 시리즈는 최대 40 GHz 대역의 고주파 RF 필드를 정밀하게 측정할 수 있도록 설계된 H-필드 및 E-필드 프로브 세트입니다.
MFA 시리즈는 4개의 능동형 자기장 프로브로 구성되어 있으며, MFA 01은 3개의 H-필드 프로브, MFA 02 세트는 저주파 측정 전용 2개의 H-필드 프로브를 포함합니다.
㈜이레테크는 Langer EMV-Technik GmbH의 기술력과 유연한 생산 체계를 기반으로, 고객의 측정 환경과 요구사항에 맞춰 특수 형태의 근접장 프로브(Customized Near-field Probes)를 설계 및 공급할 수 있습니다.
기타
Langer EMV - E1 set, Immunity Development System
E1은 개발 단계에서 인쇄회로기판(PCB)의 EMI 억제를 지원하기 위한 EMC 테스트 도구 세트입니다. 개발자는 E1 세트를 활용해 버스트(Burst) 및 ESD 간섭의 원인을 빠르게 식별하고, 이에 대한 적절한 해결책을 설계할 수 있습니다. 또한, 해결 조치의 효과를 즉시 테스트하는 데에도 유용합니다.
소형 설계로 개발자의 작업 공간에서도 간편하게 사용할 수 있으며, 제공되는 사용자 매뉴얼에는 EMC 메커니즘과 간섭 억제를 위한 기본 측정 전략이 상세히 안내되어 있습니다. E1 세트에는 버스트 및 ESD 교란을 생성하는 발생기가 포함되어 있어, 실전 같은 테스트 환경 구성이 가능합니다.
Langer EMV - ICI-DP HH500-15 set, Double Pulse Magnetic Field Source set
ICI-DP HH500-15 세트는 안전이 요구되는 회로에 고시간 및 고공간 해상도의 전자기 펄스를 주입하는 EMFI(전자기 결함 주입) 테스트를 위해 설계되었습니다.
이 장비는 단일 펄스는 물론, 최소 25ns 간격의 이중 펄스 시퀀스도 생성할 수 있어 정밀한 테스트가 가능합니다. 세트 구성품에는 고전압 소스 BPS 204와 전용 프로브 ICI-DP HH500-15가 포함되어 있으며, 프로브 또는 BPS의 동기 입력을 통해 외부 시퀀스와의 동기화도 지원합니다. 펄스 전압, 극성 등 주요 파라미터는 소프트웨어를 통해 직관적으로 설정할 수 있어 사용자 편의성과 실용성을 모두 갖추고 있습니다.