㈜이레테크는 TESEQ(AMETEK CTS)의 CDN 전 제품군을 제공하여 IEC/EN 61000-4-6을 완벽히 준수하는 신뢰높은 전도성 내성 시험 솔루션을 지원합니다.

S 시리즈는 차폐된 데이터 라인 측정을 위해 특화된 구조로 설계되었으며, 애플리케이션 유형과 라인 수량에 따른 다양한 시험 요구를 충족할 수 있도록 폭넓은 모델 구성을 제공합니다. S 시리즈의 모든 모델은 IEC/EN 61000-4-6을 완전히 준수하며, 높은 측정 신뢰성과 산업 표준 부합성을 보장합니다.

또한, 고객의 시험 목적과 환경에 따라 선택할 수 있도록 두 가지 주파수 범위 설계 옵션을 제공하여, 다양한 EMC 시험 시나리오에 유연하게 대응할 수 있습니다.