이레테크
Transient 시험 장비는 과도전압 내성시험을 위한 장비로써, 국제규격에 따라 Commercial 시험용과 Automotive/Military 시험용으로 나뉘어져 있습니다.
가장 깨끗하고 정밀한 규격 파형을 전 세계적으로 인정 받았으며, 우수한 디자인과 사용자 안전을 최우선으로 하는 간단한 케이블 구성을 가지고 있습니다.
Touch Panel 및 최신 windows 기반의 소프트웨어를 지원하여 사용하기 편한 인터페이스를 제공합니다.
기본적으로 ISO 7637-2 규격의 Pulse 1, 2a/2b, 3a/3b, 4, 5번 파형을 구현하며, 국내외 다양한 차량 제조업체의 규격에도 완벽히 적용 가능 합니다.
모든 테스트 파형은 하나의 출력 단자를 통해 출력 되며, 기본 100A 전류 용량의 높은 사양 CDN이 NSG5500에 내장 되어 있고, 다양한 용량의 Battery Simulator 또는 DC Power Supply를 연결 할 수 있습니다.
CE mark 시험 & ANSI C62.41에 정의하는 Combination Wave Surge (6.6 kV), Electrical Fast Transient (EFT) pulses (4.8 kV), Ring Wave (6.6 kV), 그리고 Power Quality Testing (PQT) 시험에 완벽히 적합하게 설계 되어 있습니다.
사용자의 편의를 극대화한 Firmware가 내장 되어 전면 컬러 디스플레이 패널로 제어가 가능하며, 사용자 요구에 따라 WIN 3000 전용 소프트웨어로 원격 제어도 가능 합니다.
가장 깨끗하고 정밀한 규격 파형을 전 세계적으로 인정 받았으며, 우수한 디자인과 사용자 안전을 최우선으로 하는 간단한 케이블 구성을 가지고 있습니다.
Touch Panel 및 최신 windows 기반의 소프트웨어를 지원하여 사용하기 편한 인터페이스를 제공합니다.
Automotive
ISO 7637-2/3, ISO 16750-2 및 모든 자동차 제조사 규격을 Tree(트리) 구조 형태로 선택하여 시험하실 수 있으며, 실차 파형을 그대로 시뮬레이션 할 수 있는 기능과 복잡하고 구현하기 어려운 파형도 직접 쉽게 만들어서 시험할 수 있는 인터페이스를 제공합니다.Commercial
IEC 61000-4-X 규격 기준의 파형을 Tree(트리) 구조 형태로 간단하게 선택하여 시험하실 수 있으며, Sequence 기능을 활용하면 여러 가지 시험을 원클릭으로 실행할 수 있습니다.Automotive
NSG 5500 시스템은 ISO 7637-2 / ISO7637-3, ISO, SAE, DIN & JASO 및 기타 기준 규격과 현대,기아자동차를 포함한 다양한 완성차량 업체의 시험 규격에 적합한 자동차 서지, 버스트 시험 장비 입니다.기본적으로 ISO 7637-2 규격의 Pulse 1, 2a/2b, 3a/3b, 4, 5번 파형을 구현하며, 국내외 다양한 차량 제조업체의 규격에도 완벽히 적용 가능 합니다.
모든 테스트 파형은 하나의 출력 단자를 통해 출력 되며, 기본 100A 전류 용량의 높은 사양 CDN이 NSG5500에 내장 되어 있고, 다양한 용량의 Battery Simulator 또는 DC Power Supply를 연결 할 수 있습니다.
-
Representative Model: NSG 5500
- Test StandardsISO, JASO, SAE, B3(DaimlerChrysler, Ford, GM), Honda, Hyundai, Mercedes, Mitsubishi, Nissan, Renault etc
- Instrument power supply
- 100 – 120 VAC ±10%, 47 – 63 Hz
- 220 – 240 VAC ±10%, 47 – 63 Hz
- Dimensions19” desktop housing (rack mountable), height 330 mm (13”), depth 510 mm (20”)
- EUT supply
- Integrated 100A CDN
- From an external source, e.g. battery or PA 5840 power amplifier/battery simulator
- Computer interfaceIEEE 488 (recommended) or USB
- Input DC voltage range60 V
- DC current100 A (250 A for 200 ms)
Commercial
NSG 3040 & 3060 system은 IEC/EN 61000-4-4,-5,-8,-9,-11,-12,-29 및 ANSI/IEEE C62.41등의 시험 규격에 적합한 과도현상 내성 시험 장비 입니다. CE mark 시험 & ANSI C62.41에 정의하는 Combination Wave Surge (6.6 kV), Electrical Fast Transient (EFT) pulses (4.8 kV), Ring Wave (6.6 kV), 그리고 Power Quality Testing (PQT) 시험에 완벽히 적합하게 설계 되어 있습니다.
사용자의 편의를 극대화한 Firmware가 내장 되어 전면 컬러 디스플레이 패널로 제어가 가능하며, 사용자 요구에 따라 WIN 3000 전용 소프트웨어로 원격 제어도 가능 합니다.
-
Representative Model: NSG 3060
Combination wave pulse 1, 2/50 - 8/20 μs (Hybrid-Surge pulse)
Pulse conforms to IEC/EN 61000-4-5 and ANSI (IEEE) 62.41
- Pulse voltage (open circuit)±200 V to 6.6 kV (in 1 V steps)
- Pulse current (short circuit)±100 A to 3.3 kA
- Impedance2/12 Ω
- Polaritypositive / negative / alternate
- Pulse repetition5* to 20 s, up to 600 s (in 1 s steps)
- derated depending on selected pulse voltage and EUT supply voltage
- Test duration1 to 9999 pulses, continuous
- Phase synchronizationasynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)
- CouplingANSI / IEC / external
Telecom Surge 10/700 & 5/320
Pulse conforms to IEC/EN 61000-4-5
- Voltage200 to 7.7 kV
- Current5 to 500 A
- Pulse shape10/700 μs (9/720 us) – 5/320 μs
- Source impedance15 and 40 Ω
- Repetition time10 to 600 s
- Synchronization0 to 359⁰ in 1⁰ steps
- Test duration1 pulse to continuous
Burst (EFT) 5/50 ns
Pulse conforms to IEC/EN 61000-4-4
- Pulse amplitude
- ±200 V to 4.8 kV (in 1 V steps) - open circuit
- ±100 V to 2.4 kV (50 Ω matching system)
- Burst frequency100 Hz to 1000 kHz
- Polaritypositive / negative / alternate
- Repetition time1 ms to 4200 s (70 min)
- Burst time1 μs to 1999 s, single pulse, continuous
- Test duration1 s to 1000 h
- Phase synchronizationasynchronous, synchronous 0 to 359º (in 1º steps)
- CouplingANSI / IEC / external